CR.2TE芯片抗静电测试系统是一种基于继电器的超快 ESD可靠性测试和静态闩锁测试系统，用于评估高级 IC 器件。它完全符合当今的JEDEC/ESDA 标准，并可以配置为具有 128、256、384 或 768 个测试引脚。
特点：
1. 波形网络 ：8位置HBM脉冲源
2. 符合行业标准的人体模型(HBM)和机器模型(MM)测试
3. 系统主机采用10英寸触摸屏操作控制
4. 符合现行 JEDEC EIA/JESD 78方法的闩锁测试
5. 借助预调节选件可以使用复杂测试和矢量模式使DUT矢量化，以实现出色的控制
6. 高度可重复、可重现的测试数据
7. 增强的数据集功能
8. 高电压电源箱
9. 电源定序
10. 事件触发器输出
11. 全面的工程矢量调试
12. 可使用智能化软件平台进行直观的设置和操作
技术指标：
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测试通道数 |
128 |
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基于继电器的操作 |
可实现比机械式测试仪快5到10倍的测试速度 |
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波形网络 |
具有100pF/1500Ω的8位置HBM脉冲源 |
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人体模型(HBM) |
100pF/1500Ω 网络，符合 ESDA、ESDA/JEDEC JS-001、MIL-STD 883 和 AEC Q100-002 规格，最高输出电压：±15kV 通过一个集成式系统按照多个行业标准进行测试 ；无需更换或对齐脉冲源 |
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多个自检诊断例程 |
在一直到测试插座的整个继电器阵列中确保系统完整性 |
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测试报告 |
预应力、失效前(ESD)和失效后数据，以及完整的曲线描记和特定数据点测量。可以导出数据进行统计评估和演示 |
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电性能参数测试分析 |
可对各类器件可进行高精度的V/I电源测试分析。包含器件耗散功率、正向电压、正向电流、反向漏电流，以及静态和极限参数测试和自定义失效判定功能 |